Rigorous investigation of RF breakdown effects in high power microstrip passive circuits

Año	2009
Autores	Vicente E. Boria Esbert
Coautores	F.J.Pérez Soler, S.Anza, M.Mattes, C.M. España, F.Quesada, M.Jimenez, J.Gil, C.Vicente, J.R, Mosig, D.Raboso, V.E.Boria, B.Gimeno, A.Alvarez
Lugar	Boston, MA, USA
Fechas	07/06/2009 al 12/06/2009
DOI	http://dx.doi.org/10.1109/MWSYM.2009.5165826
I.S.B.N.	978-1-4244-2803-8
Grupos de Investigación	Grupo de Aplicaciones de las Microondas (GAM)